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透反吸光譜系統(tǒng)
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熒光壽命測定系統(tǒng)

熒光壽命測定系統(tǒng)


集成型測量熒光壽命的測試系統(tǒng),測量范圍從亞納秒到毫秒量級,該系統(tǒng)操作簡單,只需要放入樣品,進入測量軟件界面輸入測試條件,短時間內可獲得高精度的熒光壽命,光致發(fā)光光譜,整個測量過程只需要60s即可完成。


測量熒光壽命
材料的熒光光譜參數(shù)對評估材料的性能非常重要,這些參數(shù)包括峰值波長,熒光強度。但是當材料含有多種物資和相互反應的元素時,僅僅獲得熒光光譜是不夠的,因為它只顯示光譜的時間積分信息。一種比較有效的方法是觀察材料發(fā)射光譜的時間動態(tài)信息,這就是熒光壽命的測量,即測量材料被脈沖光激發(fā)后回到基態(tài)的時間,一般是是亞納秒到毫秒之間,測量結果包含更多的光譜信息,比如在相同的波長上不同的熒光壽命,以及每種所占的比率是多少等。
 

主要特點:
采用高靈敏度的時間相關單光子計數(shù)法Ø
時間分辨率高于100psØ

對于溶液樣品,制冷溫度可達到-196

可測磷光壽命Ø

測量熒光的時間分辨各向異性Ø
熒光光譜的測量

緊湊型設計Ø

簡單快速測量²
7
種激發(fā)光波長選擇
280nm,340nm,365nm,405nm,470nm,590nm,630nm
Ø

分析不同的樣品
薄膜,固體,液體,粉末

 

 

典型的應用領域
有機金屬復合物
熒光探針
染料敏化太陽能電池
OLED
材料
量子點
LED
熒光粉

 

熒光壽命測量在眾多研發(fā)領域有著廣泛的應用,典型的應用包括有機復合材料分子間的電子移動和能量轉移,有機電致發(fā)光器件的熒光和磷光測量,熒光探針的熒光共振能量轉移,半導體測試等

 

兩種型號:

NBET-YG300標準型號300nm800nm

NBET-YG380近紅外型號380nm1030nm。

規(guī)格參數(shù)

PL波長測試范圍

300nm880nm

380nm1030nm

激發(fā)光源

7種波長LED光源(280nm,340nm,365nm,405nm,470nm,590nm,630nm

激發(fā)波長轉換

軟件控制

樣品容器

對于液體(標準是10mm²)

熒光壽命測量范圍

2.5ns-50us

磷光壽命測量范圍

50us-50ms

偏振光測量

磷光激發(fā)波長(280nm,340nm,370nm,405nm,445nm,470nm,590nm,630nm

支持紫外光測量(加附件:A11552-02

單色儀

C/T

時間軸選項

 512ch,1024ch,2048ch,4096ch

時間分辨率

1ns(半高寬)

分析功能

熒光壽命分析和光譜分析(達到5種成分)


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